基本情報

写真a

中根 英章

ナカネ ヒデアキ


担当専攻 博士前期課程

情報電子工学系専攻

担当専攻 博士後期課程

工学専攻

担当学科

情報電子工学系学科

職名

教授

電子メールアドレス

メールアドレス

ホームページURL

http://www.muroran-it.ac.jp

研究分野 【 表示 / 非表示

  • 電子デバイス・電子機器

  • 電子・電気材料工学

研究分野キーワード 【 表示 / 非表示

  • センシング

  • 電界放射電子源、超伝導素子

出身大学院・研究科等 【 表示 / 非表示

  • 北海道大学・大学院

    1981年03月,博士後期,工学研究科,電子工学専攻,修了,日本

出身学校・専攻等 【 表示 / 非表示

  • 北海道大学

    1976年03月,工学部,電子工学科,卒業,日本

所属学会 【 表示 / 非表示

  • 応用物理学会

  • 電子情報通信学会

 

高感度磁気センサを用いた非破壊計測法

操業したままで管の肉厚を測定する

研究開発の目的

磁気センサで非破壊・非接触の測定法,技術の開発

発電所,化学プラントなどで,運転を止めないでパイプの肉厚や反応容器等の板厚の計測をしたいときには非破壊・非接触の測定法が求められる。高感度の磁気センサを用いることにより,検査対象物に対し,非接触での測定が可能になる。非接触による厚さ測定の技術を用い,高感度化によるノイズの増加に対応するための技術を確立させる。

研究開発の概要

周波数特性の違いから管の板厚を計測

高感度のフラックスゲート型磁気センサを用いて,対象物の運転を止めることなく,かつ非破壊・非接触でパイプなどの厚さを計測する。高感度のセンサのためノイズが増加するが,低周波域の磁界の計測を利用することにより,交流域の磁界信号も高感度で計測可能となった。目的信号の10倍以上の強度を示すノイズを含む信号の中から目的の信号のみを取り出し,厚さを高精度で計測可能にした。渦電流磁界の周波数特性の違いから管の板厚を計測する手法により,50mm離れたところからの計測も可能で,±数%の高精度で計測することができる。

研究紹介

研究開発の特徴/利点

1.研究のポイント 2.研究の新規性
  • 非破壊・非接触かつ断熱材などの介在物を通しても測定可能
  • 非破壊・非接触かつ媒介物を通しても測定可能
3.従来の技術に比べての優位性 4.特許関連の状況
  • 高感度磁気センサにより断熱材などの介在物に厚みがあっても測定可能
 

著書 【 表示 / 非表示

  • 仕事関数/イオン化ポテンシャルの計測・評価と制御・利用事例集

    吉武道子、石井久夫、佐々木正洋、中根英章、,情報機構,酸化物修飾した金属表面の計測 ZrO/W(100),Yoxide/W(100),Hfoxide/W(100),(頁 353),2010年09月

  • センサー材料、基礎と応用

    コロナ社,電気磁気センサ,(頁 128),2000年06月

  • 薄膜電子デバイス年鑑

    プレスジャーナル,ジョセフソン素子,(頁 628),1991年03月

論文 【 表示 / 非表示

  • フラックスゲート磁気センサを用いた非破壊検査

    中根英章,非破壊検査,36巻,11号,(頁 575 ~ 577),2014年11月

  • スクックテルダイト超伝導体LaRu4P12のFe挿入効果

    T.KAWAAI, Y.KAWAMURA, J.HAYASHI, M.MATSUDA, H.NAKANE, H.GOTOU, C.SEKINE,日本物理学会誌,2013年12月

  • Work function of W(100) field emitter modified with lutetium oxide and measured with photoemission electron microscope.

    H.Nakane, Y.Nakano, T.Kawakubo,Journal of Vacuum Science and Technology,B27巻,2号,(頁 719 ~ 720),2009年04月

  • Studies W(100) modified by praseodymium oxide by using x-ray photoelectron spectroscopy, low-energy electron diffraction, and photoelectron emission microscopy.

    T.Kawakubo,Y.Nakano, H.Nakane,Journal of Vacuum Science and Technology,B27巻,2号,(頁 698 ~ 700),2009年04月

  • X-ray photoelectron spectroscpy and low-energy electron difraction analyses on the extremely low work-function surface of W(100) modified by yttrium oxide.

    T.Kawakubo, H.Nakane,Journal of Vacuum Science and Technology,B26巻,4号,(頁 1395 ~ 1397),2008年04月

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国際会議Proceedings 【 表示 / 非表示

  • Work Function Measurement of Hf-oxide/W(100) Surface by using of Photoemission Electron Microscope

    H.Nakane, T.Kawakubo,Technical Digest of the 29th International Vacuum Nanoelectronics Conference,2016巻,(頁 169 ~ 170),Institute of Electrical and Electronics Engineers Inc.,2016年07月,Vancouver

  • Field Emission Characteristics from Molybdenum (100) Surface with Thin Yttrium Oxide Layer

    T.Kawakubo, T.Kitani, H.Nakane,Proceedings of the 22nd International Display Workshop,(頁 402 ~ 404),The Society for Information Display,2015年12月,Otsu

  • Work Function Measurement of Er-oxide/W(100) Surface by using of Photoemission Electron Microscope

    H.Nakane, T.Kawakubo,Technical Digest of the 28th International Vacuum Nanoelectronics Conference,(頁 110 ~ 111),Institute of Electrical and Electronics Engineers Inc.,2015年07月,Guangzhou

  • Work function measurements of Tungsten Surface Modified by Praseodymium Oxide by Using Field Emission Microscopy and Retarding Method.

    T.Kawakubo, K.Kanbara, T.Kitani, H.Nakane,Proceedings of 21st International Display Workshops.,2014巻,(頁 602 ~ 604),The Institute of Image Information and Television Engineers,2014年12月,Niigata

  • Work Function Measurement of Ce-oxide/W(100) Surface by busing of Photoemission Electron Microscope

    H.Nakane, T.Kawakubo,Technical Digestof 27th International Vacuum Nanoelectronics Conference,2014巻,(頁 244 ~ 245),Institute of Electrical and Electronics Engineers Inc.,2014年07月,Engelberg

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論説・解説 【 表示 / 非表示

  • 電界放射電子とその応用

    中根,電気,124巻,6号,(頁 207 ~ ),2004年06月

  • 走査型プローブ顕微鏡の現状と将来動向

    中根,電気,116-A巻,4号,(頁 293 ~ 296),1996年

研究報告 【 表示 / 非表示

  • 希土類Y酸化物で修飾したW(100)表面のPEEMおよびFEMによる仕事関数の検討

    中根英章、川久保貴史,第14回真空ナノエレクトロニクスシンポジウム予稿集,14巻,(頁 239 ~ 242),2017年03月

  • Nd酸化物で修飾したW(100)表面のPEEMとFEMによる検討

    中根英章、川久保貴史,第12回真空ナノエレクトロニクスシンポジウム予稿集,12巻,(頁 51 ~ 61),2015年03月

  • Sm酸化物およびYb酸化物で修飾したW(100)表面のPEEMとFEMによる仕事関数測定

    中根英章、伊藤寛晃、川久保貴志,第11回真空ナノエレクトロニクスシンポジウム予稿集,11巻,(頁 87 ~ 96),2014年03月

  • 希土類酸化物及び遷移金属酸化物で修飾したW電界放射陰極の検討-PEEMとFEMによる検討-

    中根英章、武田紘己、川久保貴志,電子情報通信学会技術研究報告,vol.113巻,No.257号,(頁 19 ~ 22),2013年10月

  • Er oxide/W(100)陰極およびSc oxide/W(100)陰極のPEEMとFEMによる仕事関数測定

    中根英章、武田紘己、川久保貴史,第10回真空ナノエレクトロニクスシンポジウウム予稿集,10巻,(頁 87 ~ 96),2013年03月

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学会等発表 【 表示 / 非表示

  • 高感度磁気センサを用いた渦電流非破壊検査における雑音除去検討

    山田悠貴、中根英章,第52回応用物理学会北海道支部学術講演会,応用物理学会,第52回応用物理学会北海道支部学術講演会講演予稿集,(頁 82),2017年01月08日,北見,日本

  • Y-oxideで修飾したW(100)陰極表面の仕事関数測定

    祖根立樹、中根英章,第52回応用物理学会北海道支部学術講演会,応用物理学会,第52回応用物理学会北海道支部学術講演会講演予稿集,(頁 44),2017年01月07日,北見,日本

  • 光電子放射顕微鏡によるY-oxide/W(100)における低仕事関数面の検討

    三好雄稀、中根英章,第52回応用物理学会北海道支部学術講演会,応用物理学会,第52回応用物理学会北海道支部学術講演会講演予稿集,(頁 43),2017年01月07日,北見,日本

  • Work function measurement of Hf-oxide/W(100) surface by using Photoemission Electron Microscope

    H.Nakane, T.Kwakubo,29th International Vacuum Nanoelectronics Conference,Institute of Electrical and Electronics Engineers Inc.,Thechnical Digest of the 29th International Vacuum Nanoelectronics Conference,(頁 169-170),2016年07月13日,Vancouver,Canada

  • Work function measurement of Ce-oxide/W(100) surface by using Photoemission Electron Microscope

    H.Nakane, T.Kwakubo,27th International Vacuum Nanoelectronics Conference,Institute of Electrical and Electronics Engineers Inc.,Thechnical Digest of the 27th International Vacuum Nanoelectronics Conference,(頁 63-64),2014年07月07日,Engelberg,Switzerland

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共同研究の実績 【 表示 / 非表示

  • 大企業

    2008年04月01日,情報通信分野,900000(円)

  • 大企業

    2007年08月03日,情報通信分野,1500000(円)

  • 大企業

    2006年11月06日,情報通信分野,1500000(円)

  • 大企業

    2005年08月17日,情報通信分野,10500000(円)

  • 大企業

    2005年05月16日,ナノテクノロジー・材料分野,1500000(円)

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受託研究の実績 【 表示 / 非表示

  • 公益法人等

    2008年07月08日,情報通信分野,2000000(円)

 

担当授業科目 【 表示 / 非表示

  • 電磁気学II

    2017年度,学部

  • 工学演習II

    2017年度,学部

  • 電磁気学I

    2017年度,学部

  • 量子工学特論

    2017年度,博士前期課程

  • 学内インターンシップ(電子デバイス計測コース)

    2017年度,博士前期課程

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公開講座等 【 表示 / 非表示

  • 電子機能材料特論

    2002年08月02日,室蘭工業大学,室蘭工業大学,免許法認定公開講座,講演